书目详细信息
： 最新集成电路测试技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-118-06071-3:CNY35.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 最新集成电路测试技术/.高成，张栋，王香芬编著 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,2009 |
| 载体形态项： | 290页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书系统介绍了常用集成电路测试的原理、方法和技术，范围涵盖了数字集成电路、模拟集成电路、SOC器件、数字/模拟混合集成电路、电源模块、集成电路测试系统、测试接口板设计等方面。 |
| 题名主题： | 集成电路 测试 |
| 题名主题： | 集成电路 |
| 题名主题： | 测试 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 高成 (信号处理) 编著 |
| 个人名称等同： | 张栋 (系统工程) 编著 |
| 个人名称等同： | 王香芬 编著 |
| 记录来源： | CN LCDUT-LS 20091020 |