ISBN/价格: | 978-7-5640-3627-0:CNY45.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 公差配合与技术测量/.张文革,石枫主编 |
出版发行项: | 北京:,北京理工大学出版社:,2010 |
载体形态项: | 368页:;+图:;+24cm |
一般附注: | 面向“十二五”高等教育课程改革项目研究成果 |
提要文摘: | 本书共分9个项目,分别为极限与配合基础、技术测量基础、形状和位置公差及其检测、表面粗糙度及测量、常用典型结合的公差及其检测、尺寸链等。 |
题名主题: | 公差 配合 高等教育 教材 |
题名主题: | 技术测量 高等教育 教材 |
题名主题: | 公差 |
题名主题: | 配合 |
题名主题: | 技术测量 |
中图分类: | TG801 |
个人名称等同: | 张文革 (职业教育) 主编 |
个人名称等同: | 石枫 (建筑工程) 主编 |
记录来源: | CN LCDUT-LS 20110407 |